NX12 Mikroskopia SPM z technikami SICM oraz fluorescencji

Strona Główna - Katalog Produktów - Mikroskopia Bliskich Odziaływań SPM-Mikroskopia Wysokorozdzielcza- - NX12 Mikroskopia SPM z technikami SICM oraz fluorescencji

NX12 Mikroskopia SPM z technikami SICM oraz fluorescencji

Mikroskopia Sił Atomowych (ang. AFM) służy do obrazowania z rozdzielczością nanometryczną uwzględniając możliwości pomiaru właściwości elektrycznych, magnetycznych, cieplnych i mechanicznych.
System skanowania oparty jest na pracy z wykorzystaniem nanopipet do przewodzenia jonów o wysokiej rozdzielczości (ang. SICM).
Odwrócona mikroskopia optyczna (ang. IOM) służy do badań materiałów przezroczystych i modułów fluorescencji.

Opis produktu
Dane techniczne
Do pobrania

Idealna platforma dla podstawowej elektrochemii

Badania elektrochemii akumulatorów, ogniw paliwowych, czujników oraz korozji to szybko rozwijająca się dziedzina, jednak wiele AFM’ów nie pokrywa bezpośrednio jej unikalnych potrzeb. Park NX12 oferuje funkcjonalność i elastyczność, jakiej wymagają badacze z dziedziny chemii, dając im jedną prostą, łatwą w obsłudze platformę z wszystkimi potrzebnymi narzędziami, w tym:

  • Możliwość wykorzystania uniwersalnego i łatwego w użyciu układu elektrochemicznego
  • Opcje badań środowiskowych z wykorzystaniem gazu obojętnego i wilgoci
  • Kompatybilność Bi-potencjostatyczną

Użytkownicy mogą wykorzystać platformę Park NX12 do różnych zastosowań elektrochemicznych:

  • Mikroskopia elektrochemiczna bliskich oddziaływań (SECM)
  •  Mikroskopia ogniw elektrochemicznych (SECCM)
  • Elektrochemiczna mikroskopia sił atomowych (EC-AFM) i elektrochemiczna mikroskopia tunelowa (EC-STM)

Łatwy dostęp optyczny dzięki automatycznemu ogniskowaniu.

System umożliwia dostęp optyczny do sondy pod różnymi kątami podczas pomiarów, zarówno z góry, z boku, jak i od dołu. Szeroki dostęp optyczny w połączeniu z modułową konstrukcją urządzenia pozwala również na zastosowanie akcesoriów optycznych lub nanooptycznych.

  • Sprawdzone osiągi mechanizmu systemu NX10.
  • Układ wyposażony w odwróconą mikroskopię optyczną.

Park NX12 łączy wszechstronność i dokładność systemu AFM ze stolikiem odwróconego mikroskopu optycznego. Pozwala to użytkownikom na łatwe wykorzystanie technik opartych na pipetowaniu oraz pracę z przezroczystymi lub nieprzezroczystymi, miękkimi lub twardymi próbkami.

 

Modułowa platforma dla współdzielonych udogodnień dla użytkowników

  • Park NX12 jest platformą AFM specjalnie dostosowaną do potrzeb badaczy analitycznych i elektrochemicznych.
  • Zapewnia wszechstronne rozwiązanie w zakresie charakterystyki chemicznej i elektrochemicznej SPM oraz charakterystyki powierzchni zarówno w powietrzu, jak i w cieczach dla szerokiej gamy materiałów nieprzezroczystych i transparentnych.
  • Park NX12 jest łatwy w użyciu dla technik SPM opartych na pracy z nano-pipetami oraz  szerokim wizualnym dostępem optycznym do sondy skanującej.
  • Rozsądna cena i niezrównana dokładność sprawiają, że Park NX12 jest idealną platformą dla obiektów przeznaczonych dla wielu użytkowników, jak również dla początkujących badaczy.

Park NX12 może obsługiwać szeroki zakres funkcji, w tym mapowanie nanomechaniczne PinPoint™, odwróconą mikroskopię optyczną , SICM do obrazowania ultra miękkich próbek oraz ulepszone widzenie w celu poprawy układu optycznego próbek przezroczystych.

 

Zbudowany z myślą o wielu udogodnieniach dla użytkowników

Park NX12 został zbudowany od podstaw w celu zaspokojenia potrzeb wielu użytkowników.

Park NX12 został to zaawansowana konstrukcja systemu AFM do badań w cieczy oraz powietrzu w tym obrazowaniu optycznemu, co czyni go jednym z najbardziej elastycznych dostępnych komercyjnie systemów AFM.

 

Kompleksowe rozwiązanie w zakresie spektroskopii sił

Park NX12 stanowi kompletny pakiet do nanomechanicznej charakterystyki w środowisku cieczy i w powietrzu, dzięki czemu idealnie nadaje się do szerokiego zakresu aplikacji.

 

Modułowa budowa

Ułatwiamy modyfikację urządzenia Park NX12 w celu dostosowania go do unikalnych potrzeb laboratorium, umożliwiając instalację opcjonalnych dodatków sprzętowych i programowych, nawet po zainstalowaniu urządzenia w jego docelowym środowisku pracy.

 

Łatwa wymiana sond skanujących i nanopipet

Unikalna konstrukcja głowicy umożliwia łatwy dostęp z boku, co pozwala na łatwe, manualne umieszczanie nowych sony i próbek. Sonda jest gotowa do skanowania bez konieczności ogniskowania wiązki laserowej dzięki zastosowaniu sond typu pre-mounted.

 

Zbliżenie sondy do próbki

Automatyczny system typu „tip to sample” nie wymaga interwencji użytkownika. Dzięki monitorowaniu siły oddziałującej na sondę, Park NX12 może zainicjować i zakończyć automatyczne, szybkie podejście typu ”tip to sample” w ciągu 10 sekund od załadunku wspornika. Sprzężenie zwrotne za pomocą szybkiego skanera „Z” i przetwarzanie sygnału o niskim poziomie hałasu przez sterownik elektroniczny NX umożliwia zbliżanie do powierzchni próbki bez konieczności interwencji użytkownika. „To po prostu działa” i wymaga minimalnego zaangażowania użytkownika.

Łatwe, intuicyjne osiowanie wiązki laserowej

Dzięki naszemu zaawansowanemu, wstępnie ustawionemu uchwytowi sondy, wiązka lasera jest skupiona na beleczce po jej umieszczeniu. Ponadto, bezpośredni widok z góry w osi (jedynie w NX12!), pozwala na łatwe odnalezienie plamki lasera. Ponieważ wiązka lasera jest skierowana prostopadle do sony, można intuicyjnie przesuwać punkt lasera wzdłuż osi X i Y, obracając dwa pokrętła pozycjonowania. Dzięki temu można łatwo odnaleźć laser i ustawić go w polu fotodiody za pomocą interfejsu użytkownika. Wystarczy tylko niewielka korekta, aby zmaksymalizować sygnał przed rozpoczęciem akwizycji danych.

 

Park SmartScan™

Obrazowanie za pomocą jednego kliknięcia w trybie Park SmartScan™ Auto. Wszystko, co należy określić dla obrazowania AFM, to preferencje dotyczące jakości obrazu i prędkości, docelowej matrycy pikseli oraz rozmiaru pola skanowania. Poza tymi parametrami wystarczy pozostawić wszystkie zaawansowane parametry AFM trybowi automatycznego skanowania Park SmartScan™. System rozpocznie pomiar w zoptymalizowanych warunkach dla automatycznego obrazowania po kliknięciu odpowiedniego przycisku.

 

→ System operacyjny AFM dla wszystkich

Niezależnie od tego, czy potrzeby w zakresie AFM koncentrują się na badaniach naukowych, metrologii przemysłowej czy analizie błędów, tryb SmartScan Auto oferuje usprawniony system generowania publikowalnych, wysokiej jakości danych AFM. Co więcej, SmartScan™ oznacza obiecujące wyniki nawet dla początkujących oraz uzyskanie danych o jakości tak dobrej jak dane eksperta, w znacznie krótszym czasie.

→FastApproach™

Kliknij przycisk „Position” i skaner „Z” podchodzi do próbki automatycznie i z dużo większą prędkością niż podczas typowego manualnego podejścia. Opatentowana technologia FastApproach™ firmy Park bezpiecznie przenosi sondę na powierzchnię próbki z pełną prędkością, bez interwencji użytkownika i uruchamia się w ciągu 10 sekund po załadowaniu beleczki.

 

→Łatwy dostęp do obszaru skanowania

Po włączeniu funkcji „tip to sample”, kamera optyczna automatycznie ustawi ostrość na próbce, aby znaleźć interesujący obszar (AOI). UX w Park SmartScan™ umożliwia intuicyjną nawigację próbki, dając użytkownikowi kontrolę nad głowicą oraz stolikiem w zintegrowanym oknie podglądu optycznego.

→Przyspieszone obrazowanie z funkcją AdaptiveScan™

Innowacyjna funkcja AdaptiveScan™ firmy Park automatycznie steruje prędkością skanowania w oparciu o topologię powierzchni próbki. AdaptiveScan™ dynamicznie dostosowuje optymalną prędkość skanowania, aby uzyskać wysokiej jakości obraz o nieznanej morfologii przy wyższej prędkości skanowania. Pozwala to skutecznie skrócić czas wykonywania pomiaru przy zachowaniu najwyższej jakości obrazu, porównywalnej z jakością uzyskiwaną przez dobrze wyszkolonego użytkownika. Podczas przenoszenia sondy do innych lokalizacji lub powiększania obszaru skanowania, funkcja AdaptiveScan automatycznie dostosowuje nowe optymalne warunki skanu.

 

Możliwość dostosowania do każdej aplikacji

Szeroki zakres trybów skanowania i modułowa konstrukcja serii NX pozwala na łatwe dostosowanie jej do potrzeb każdej aplikacji związanej z badaniami mikroskopii w bliskich oddziaływaniach.

Seria NX to szeroki zakres opcji do badań w kontrolowanym środowisku w tym zaawansowane moduły elektrochemiczne, uchwyty do badań temperaturowych oraz praca w warunkach gazu inertnego z regulacją wilgotności.

 

 

Specyfikacja
SKANER Skaner Z Skane XY
Głowica AFM

Skaner typu „FLEXURE”

Zakres skanowania: 15 µm (opcjonalnie 30 µm)

Głowica SICM

Skaner typu „FLEXURE”

Zakres skanowania: 15 µm (opcjonalnie 30 µm)

 

Skaner typu „FLEXURE” w trybie zamkniętej pętli sprzżęnia

Zakres skanowania: 100 x 100 µm

 

Stolik PODGLĄD ODWRÓCONA MIKROSKOPIA OPTYCZNA
Zakres przesuwu XY: 50 mm x 50 mm x 50 mm

Zakres przesuwu Z: 25 mm

Zakres drogi ogniskowania: 15 mm

Bezpośredni widok w osi powierzchni próbki oraz sondy

Pole widzenia: 840 um x 630 um (z obiektywem 10x)

Kamera: 5 MP, 1 MP (opcjonalnie)

 

Obiektywy

10x (NA. 0,23) obiektyw o ultra dużej odległości roboczej

20x (NA. 0,35) wysoka rozdzielczość, obiektyw o dużej odległości roboczej

Obiektyw: do 100x

Mikroskopia fluorescencyjna (opcjonalnie)

Mikroskopia konfokalna (opcjonalnie)

 

KONTROLER Przetwarzanie sygnału Funkcje zintegrowane
ADC: 18 kanałów

24-bit ADC dla czujników położenia skanera X, Y i Z.

DAC: 17 kanałów

20-bitowe przetworniki cyfrowo-analogowe do pozycjonowania skanerów X, Y i Z.

3 kanały cyfrowego wzmacniacza lock-in

Kalibracja stałej sprężystości (metoda termiczna)

Q control

 

OPCJE/MODY Obrazowanie standardowe Właściwości chemiczne Właściwości Dielektryczne/Piezoelektryczne
Tryb Non-contact™ (Bezkontaktowy)

Tryb kontaktowy

Mikroskopia sił bocznych (LFM)

Tryb obrazowania fazowego

Tryb przerywanego kontkatu

Tryb PinPoint™: Obrazowanie PinPoint

SECCM

SECM

EC-AFM i EC-STM

 

 

Mikroskopia sił elektrostatycznych (EFM)

Dynamiczny kontakt EFM (EFM-DC)

Mikroskopia sił piezoelektrycznych (PFM)

PFM HV

 

Pomiar sił Właściwości magnetyczne Właściwości termiczne
 Spektroskopia sił (F/d)

 

Mikroskopia sił magnetycznych (MFM)

Przestrajalne pole magnetyczne MFM

 

Skanowanie – Mikroskopia termiczna (SThM)
Właściwości elektryczne Właściwości mechaniczne
Pomiar przewodnictwa AFM (CP-AFM)

Pinpoint™

Spektroskopia prądowo-napięciowa I/V

Mikroskopia z sondą Kelvina (SKPM/KPFM)

SKPM HV

Mikroskopia pojemnościowa (Quickstep™) (SCM)

Skaningowa mikroskopia rezystancji rozproszenia (SSRM)

Skaningowa mikroskopia tunelowa (STM)

Skaningowa spektroskopia tunelowa (STS)

Mapowanie prądem fotoelektrycznym (PCM)

Tryb Nanomechaniczny Pinpoint™

Mikroskopia modulacji siły (FMM)

Nanoindentacja

Nanolitografia

Nanolitografia HV

Nanomanipulacja

 

 

OPROGRAMOWANIE Park SmartScanTM Akcesoria
Oprogramowanie do sterowania systemem AFM i akwizycji danych.

Tryb automatyczny dla szybkiej konfiguracji i łatwego obrazowania.

Tryb ręczny dla zaawansowanego użycia i dokładniejszej kontroli skanowania

Uchwyty z regulacją temperatury.

Komora do badań w środowisku gazu inertnego.

Generator pola magnetycznego.

Opcje do badań w cieczach.

 

XEI

Oprogramowanie do analizy danych AFM.

Niezależne oprogramowanie – można instalować i analizować dane na niezależnym komputerze.

Możliwość renderowania 3D.